表面形貌測(cè)量?jī)x是一種非接觸式光學(xué)3D輪廓儀，具有測(cè)量薄膜和厚膜的功能。除提供尺寸和粗糙度測(cè)量功能，還可以提供兩種類型的膜厚測(cè)量，測(cè)量較薄的涂層被證實(shí)為難度更高。

　　采用這種新型方法，可以在單次測(cè)量中研究膜厚、界面粗糙度、針孔缺陷以及薄涂層表面的剝離等特性。無論測(cè)量的是何種元件，無論對(duì)分析速度的要求有多高，非接觸式表面形貌測(cè)量?jī)x都能為您提供精密的3D表面測(cè)量結(jié)果。

　　極大地?cái)U(kuò)展了分析能力，同時(shí)又不至于讓分析程序變得更復(fù)雜?？蓽y(cè)量各種各樣的元件和表面，不需要進(jìn)行復(fù)雜的測(cè)量模式切換，也不會(huì)給中間透鏡的校準(zhǔn)增加額外的負(fù)擔(dān)。通過標(biāo)準(zhǔn)化的方法、程序和報(bào)告，可輕松地整合到質(zhì)量管理系統(tǒng)中。

　　表面形貌測(cè)量?jī)x對(duì)于很多需要進(jìn)行高精度3D輪廓分析的應(yīng)用非常有用，可測(cè)量多種類型的表面?？蓽y(cè)量的材料類型包括：玻璃、液體墨水、光刻膠、金屬、聚合物和糊劑。

　　三維形貌量測(cè)系統(tǒng)采用光學(xué)全場(chǎng)非接觸式測(cè)量技術(shù)，通過測(cè)頭直接測(cè)量獲取工件的三維形貌信息，對(duì)三維輪廓信息進(jìn)行直接測(cè)量得到工件的尺寸信息。

　　表面形貌測(cè)量?jī)x對(duì)手機(jī)外殼檢測(cè)的原理：

　　采用光學(xué)全場(chǎng)非接觸式測(cè)量技術(shù)，直接獲取手機(jī)外殼的三維形貌。通過三維形貌的點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行逆向工程生成CAD模型，與手機(jī)外殼的CAD原型比對(duì)，獲得加工誤差，為產(chǎn)品提供質(zhì)量考核依據(jù)。

　　表面形貌測(cè)量?jī)x在手機(jī)外殼中的應(yīng)用：

　　1.手機(jī)外殼全表面快速測(cè)量；

　　2.手機(jī)3D玻璃及陶瓷外殼等構(gòu)件輪廓及厚度檢測(cè)。

　　這一類檢測(cè)是采用光譜共焦技術(shù)，非接觸式測(cè)量手機(jī)3D玻璃及陶瓷外殼等構(gòu)件的整板翹曲度，任意截面翹曲度，整板厚度以及任意截面厚度等。